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PCBA失效剖析
2025-05-02 03:01:30       来源:星空体育app下载

  #1样品BGA掉落;#2样品BGA有微裂纹(未偏位);#3样品FPC空板(未贴装器材)。

  阐明:从外表残留焊锡及断面状况剖析,存在有河流把戏及解理台阶,判别其为解理开裂,即脆性开裂。

  阐明: 对#1-1焊盘进行EDS剖析,首要检出Sn、Ni、P、Cu元素,其间P含量高达15%左右。

  PCB镀层(Pd钯)的剖析选取邦定芯片的一个pin方位,选用化学褪金后调查Pd外表的晶格状况。

  阐明:#1样品褪金后Pb层的晶格状况剖析:晶格细密、平坦,晶粒间无空泛或缝隙,无反常。

  阐明:#2样品上侧(接近玻璃芯片处)的焊球(①、③)与基板起翘别离。②、④焊球未见显着反常。

  阐明:#2样品的①、②焊点切片断面金相剖析,焊点① 焊球与焊盘开裂,呈别离状况,开裂缝隙由外向内(芯片端→PCB边际端)变小。

  阐明:焊盘为SMD类型,从焊点两边开裂状况可见,存在焊锡受阻焊膜压榨构成台阶现象,以及焊锡与阻焊膜之间有应力残留的结构特征。两边际开裂方位根本都在富磷层。

  首要问题是由SMD焊点发生的应力会集,这是构成焊点失效及可靠性变弱的原因。

  阐明:#2样品的焊点②状况杰出,IMC层接连、均匀,均匀厚度为1.58μm,富磷层0.17um。

  阐明: 对焊点①进行EDS剖析,首要检出Sn、Ni、P、Cu元素,其间富磷层P含量在10.5%左右,Ni层P含量在8.5%左右。

  阐明:从上记检测成果可见:Au均匀厚度:0.0925um;Pd均匀厚度:0.0875um;Ni均匀厚度:6.275um。

  镍钯金工艺镀层Au、Pd厚度一般要求在0.08μm左右,上记成果符合要求。

  1. 通过对#1样品BGA剥离后的断口剖析,有显着的脆性开裂特征(平坦、河流把戏、解理台阶),阐明该开裂是由应力导致的瞬时冲击构成(原始状况)。

  2.通过对剥离面的EDS剖析,P含量高达15%左右(#1样),切片断面的剖析,富磷层的P含量在10.5%左右(#2样),阐明开裂方位部分处于富磷层。

  3.通过切片断面的剖析,开裂界面呈现在IMC层及富磷层,开裂裂纹为上下符合状,进一步阐明晰焊点是遭到应力导致开裂。一起,FPC选用SMD焊盘结构,焊盘上掩盖的阻焊膜使BGA焊点与阻焊膜触摸的方位构成了应力会集点(一起也或许有焊接时的应力残留未开释),在遭到外部应力效果时,该方位易被打破。

  剖析定论:依据以上归纳剖析,构成焊点开裂的原因判别为,FPC遭到应力效果,一起BGA焊点方位因为SMD焊盘规划结构有应力会集的缺点,然后构成BGA在遭到某些特定的程度的应力后呈现裂纹失效。

  结合样品的工艺流程剖析,开始揣度超声清洗工程有几率存在应力效果。BGA类产品,对应力效果比较灵敏。

  FPC清洗时,BGA所在的不同深度、不同方位遭到的应力效果或许不同。主张从超声清洗工艺做验证排查,找到比较适宜的清洗条件(频率、温度)。

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